JESD22冷热冲击箱标准清单
冷热冲击试验箱试验用于确定器件耐受变化的暴露于极限高低温(13826902476, Q:2850687963) ,同事周期性施加何去除工作偏置.本试验目的是模拟应用环境中达到的最严苛的条件, 功率温度循环试验视为破坏性, 且只用于器件的鉴定.本试验方法应用于需经受超温/需要在所有温度条件上下电的半导体器件.
加速水汽抵抗性-无偏压蒸煮测试
高温老化寿命测试
温度循环测试
上电温循测试
热冲击测试
盐雾测试
高压加速老化HAST测试
低温老化测试
振动/变频测试
机械冲击试验
连续高温老化测试
半导体晶圆测试